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芯和半導體聯合新思科技業界首發,前所未有的“3DIC先進封裝設計分析全流程”EDA平臺

2025China.cn   2021年08月30日

  2021年8月30日,中國上海訊——國產EDA行業的領軍企業芯和半導體發布了前所未有的“3DIC先進封裝設計分析全流程”EDA平臺。該平臺聯合了全球EDA排名第一的新思科技,是業界首個用于3DIC多芯片系統設計分析的統一平臺,為客戶構建了一個完全集成、性能卓著且易于使用的環境,提供了從開發、設計、驗證、信號完整性仿真、電源完整性仿真到最終簽核的3DIC全流程解決方案。

  隨著芯片制造工藝不斷接近物理極限,芯片的布局設計——異構集成的3DIC先進封裝(以下簡稱“3DIC”)已經成為延續摩爾定律的最佳途徑之一。3DIC將不同工藝制程、不同性質的芯片以三維堆疊的方式整合在一個封裝體內,提供性能、功耗、面積和成本的優勢,能夠為5G移動、HPC、AI、汽車電子等領先應用提供更高水平的集成、更高性能的計算和更多的內存訪問。然而,3DIC作為一個新的領域,之前并沒有成熟的設計分析解決方案,使用傳統的脫節的點工具和流程對設計收斂會帶來巨大的挑戰,而對信號、電源完整性分析的需求也隨著垂直堆疊的芯片而爆發式增長。

  芯和半導體此次發布的3DIC先進封裝設計分析全流程EDA平臺,將芯和2.5D/3DIC先進封裝分析方案Metis與新思 3DIC Compiler現有的設計流程無縫結合,突破了傳統封裝技術的極限,能同時支持芯片間幾十萬根數據通道的互聯。該平臺充分發揮了芯和在芯片-Interposer-封裝整個系統級別的協同仿真分析能力;同時,它首創了“速度-平衡-精度”三種仿真模式,幫助工程師在3DIC設計的每一個階段,能根據自己的應用場景選擇最佳的模式,以實現仿真速度和精度的權衡,更快地收斂到最佳解決方案。

  芯和半導體聯合創始人、高級副總裁代文亮博士表示:“在3DIC的多芯片環境中,僅僅對單個芯片進行分析已遠遠不夠,需要上升到整個系統層面一起分析。芯和的Metis與新思的 3DIC Compiler的集成,為工程師提供了全面的協同設計和協同分析自動化功能,在設計的每個階段都能使用到靈活和強大的電磁建模仿真分析能力,更好地優化其整體系統的信號完整性和電源完整性。通過減少 3DIC 的設計迭代加快收斂速度,使我們的客戶能夠在封裝設計和異構集成架構設計方面不斷創新。”

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